Hvad er formen og strukturen af ​​et marmormikrometer?

Et mikrometer, også kendt som en måler, er et instrument, der bruges til præcis parallel og plan måling af komponenter. Marmormikrometre, alternativt kaldet granitmikrometre, stenmikrometre eller stenmikrometre, er kendt for deres exceptionelle stabilitet. Instrumentet består af to kernedele: en kraftig marmorbase (platform) og en præcisionsskive eller digital indikatorenhed. Målinger foretages ved at placere delen på granitbasen og bruge indikatoren (skivetestindikator, måleskive eller elektronisk sonde) til sammenlignende eller relativ måling.

Disse mikrometre kan kategoriseres i standardtyper, modeller med finjustering og modeller med skruedrift. Instrumentets fundament – ​​marmorbasen – er typisk præcisionsfremstillet af højkvalitets "Jinan Black"-granit. Denne specifikke sten er valgt for dens overlegne fysiske egenskaber:

• Ekstrem densitet: Fra 2970 til 3070 kg pr. kubikmeter.
• Lav termisk udvidelse: Minimal størrelsesændring med temperaturudsving.
• Høj hårdhed: Overstiger HS70 på Shore skleroskopskalaen.
• Ældningsstabilitet: Denne granit er naturligt ældet over millioner af år og har fuldstændig frigivet alle indre spændinger, hvilket garanterer langvarig stabilitet uden behov for kunstig ældning eller vibrationsaflastning. Den vil ikke deformeres eller vride sig.
• Overlegne materialeegenskaber: Den fine, ensartede sorte struktur giver fremragende stabilitet, høj styrke og bemærkelsesværdig modstandsdygtighed over for slid, korrosion, syrer og alkalier. Den er også fuldstændig ikke-magnetisk.

Tilpasning og præcisionskvaliteter

Hos ZHHIMG forstår vi, at behovene varierer. Derfor tilbyder vi tilpasningsmuligheder for marmorbasen, herunder bearbejdning af T-spor eller indstøbning af stålbøsninger for at imødekomme specifikke krav til beslag.

Marmormikrometre fås i tre standardnøjagtighedsgrader: Grad 0, Grad 00 og den ultrapræcise Grad 000. Mens Grad 0 normalt er tilstrækkelig til generel emneinspektion, giver vores finjusterings- og faste modeller fleksibilitet til forskellige opgaver. Den store platform muliggør nem bevægelse af emner hen over overfladen, hvilket muliggør effektiv batchmåling af flere dele. Dette strømliner inspektionsprocessen betydeligt, reducerer operatørens arbejdsbyrde og giver uovertruffen pålidelighed til kvalitetskontrol, hvilket gør det til en meget foretrukken løsning blandt vores kunder.